CIM 2017

Mål i dag og skap fremtiden

CIM 2017, International Metrology Congress, vil bli avholdt, fra 19. til 21. september i Paris.

Publisert Oppdatert

CIM er et unikt bindeledd mellom FoU og industrielle applikasjoner for alle aktører og alle felt innen industrielle sluttbrukere av måleutstyr, tekniske eksperter, offentlige og private laboratorier, produsenter og tjenesteleverandører.

Dette skjer på kongressen

PÅ CIM kan du • Forbedre måle-, analyse- og testprosesser, samtidig som du reduserer eventuelle risker • Utforske den teknologiske utviklingen, FoU-fremgang og lære mer om praktiske industrielle applikasjoner.

Hovedtemaene er: metrologi 4.0 og fremtidens fabrikk, ny ISO 17 025, metrologi for biologi, helse og farmasi, ny utvikling innen energi og nanoteknologi. På messen finner du flere ulike måleteknologifelt, eksempelvis dimensjonering, 3D-måling, usikkerhetsmåling, dronebasert måling, måling av elektrisitet, temperatur og flow. CIM 2017 samorganisert med ENOVA Paris, referanseutstillingen for teknologier innen elektronikk, IoT, måling, visjon og optikk.

Program og mer informasjon om CIM 2017 finner du på: www.cim2017.com